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CTT3280F
CTT3280F测试系统是以量产功率半导体分立器件为目标的高性能集成电路测试机,可适应于功率器件的芯片测试和成品测试。测试系统是以CP测试MOSFET等功率器件的浮动源测试机,利用浮动源的通道抗干扰性、测试稳定性,提升CP产品测试性能。
 
系统功能:
  • PC通过PCI卡与测试机数据交换;

  • 采用双层机架,最多可以配7块模块;

  • 整机测试规格为1000V/10A,最大支持8SITE全参数并行测试;

  • DUT盒通过2米长CABLE与主机相连;

  • 常规配置1个测试头,最多并测8个管芯;

  • 配GPIB接口,可与UF200等主流探针台进行联机测试;

  • 测试机电源由软件控制,具有自我保护功能;

  • 每个源独立AD/DA提升了系统的测试速度;

  • 软件界面以填表方式提供用户测试参数设置界面,并提供单项参数调试功能;

  • 使用CHK模块进行自检校准校验;

     

 

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