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C7400平移式测编一体机

 C7400是平移式视觉检测自动分选系统,具备Tray To Tray和TrayTo Reel两种工作模式,采用模块化的设计方案,可提供3D Vision Inspection、2D In-Tray Inspection及In-Pocket Inspection 三个视觉工作站供客户选择,适用于QPF/QFN/LGA等封装形式的外观尺寸检测和包装。

控制系统基于Windows7开发,具有良好的人机操作界面。整机采用模块化设计,通用性好,维护方便。关键性能技术指标处在同行前列。针对不同规格的IC只需更换少数KIT即可适用,具有经济、省时的优点。
性能参数:
序号
项目
指标
1
适用的IC封装形式
Leaded/QFN (4*4 ~ 40*40 mm)
Tray to reel :(4*4~12*12mm)
2
适应料盘规格
标准JEDEC料盘
3
Vision Station
3D Station、In Tray 、In pocket
4
视觉良率
>99%
5
UPH
Tray to Reel: 9k/h (依据QFN 6*6mm)
Tray to Tray: 11k/h (依据QFN 6*6mm)
6
故障率
< 1/ 5,000 pcs
7
换测时间
< 20 min
8
分选机设备尺寸
2420(W)×1540(D)×1400(H)mm
2100(W)×1540(D)×1400(H)mm

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